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环状样品
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<p>依据行业军用标准SJ20512，采用传输/反射原理测量大损耗固体材料复介电常数和磁导率，频率范围2～40GHz（2个波段），测量精度5% 。样品要求：环形（波段1 外径7mm，内径为3.04mm），避免气孔、无裂缝。</p>
方形块样品
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<p>依据行业军用标准SJ20512，采用传输/反射原理测量大损耗固体材料复介电常数和磁导率，频率范围1.7～40GHz（8个波段）测量精度3% 。样品要求：方形（8.2～12.4波段 长22.86mm，宽10.16mm，厚5mm左右），避免气孔、无裂缝。</p>
平板材料
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<p>采用传输/反射原理测量大损耗固体材料复介电常数和磁导率，频率范围2～40GHz（8个波段），测量精度10% 。样品要求：平面状（尺寸大于300x300mm），表面平整、无裂缝。</p>
低损片状材料
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<p>采用谐振原理测量低损耗固体材料复介电常数和磁导率，频率范围0.3～20GHz（单频点或少数几个频点工作，根据用户需求设计定制频点），测量精度1% 。样品要求：平面状（9GHz频点 直径47.6mm,厚度3mm左右），表面平整、无裂缝。</p>
薄膜低损材料
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<p>采用谐振原理测量低损耗固体材料复介电常数和磁导率，频率范围0.3～20GHz（单频点或少数几个频点工作，根据用户需求设计定制频点），测量精度1% 。样品要求：平面状（10GHz频点 长度大于115mm，宽度大于60小于73mm,厚度小于1mm），表面平整、无裂缝。</p>
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